În perioada iunie 2026, reprezentanții Departamentului Microelectronică și Inginerie Biomedicală (DMIB), Facultatea Calculatoare, Informatică și Microelectronică (FCIM), Universitatea Tehnică a Moldovei, au desfășurat un stagiu de cercetare la Centrul de Microscopie – Microanaliză și Procesarea Informației din cadrul Universității Naționale de Știință și Tehnologie POLITEHNICA București, în cadrul proiectului bilateral OPTOCARSEMO – „Noi abordări în caracterizarea optică a oxizilor semiconductori micști bazate pe metode corelative la nanoscală” (PN-IV-PCB-ROMD-2024-0541).
Activitățile de cercetare au inclus investigarea unor materiale semiconductoare avansate pe bază de ZnO/CuO, ZnO și Ag₂S/TiO₂/CuO,Ag, utilizând infrastructura de înaltă performanță a centrului gazdă. Caracterizarea probelor a fost realizată prin microscopie de fluorescență, microscopie confocală, microscopie de forță atomică (AFM) și spectroscopie de absorbție/transmisie, oferind informații valoroase privind proprietățile optice și morfologice ale materialelor studiate.
Pe lângă activitățile experimentale, membrii echipei au participat la întâlniri de lucru și discuții științifice dedicate consolidării colaborării dintre Centrul de Nanomateriale și Nanosenzori al DMIB și Centrul de Microscopie – Microanaliză și Procesarea Informației din București, fiind identificate noi oportunități de cercetare și publicare în comun.
Rezultatele obținute vor fi valorificate în cadrul etapelor următoare ale proiectului OPTOCARSEMO și vor contribui la dezvoltarea unor soluții inovatoare bazate pe materiale semiconductoare nanostructurate pentru aplicații optoelectronice și de detecție.
Colaborarea dintre UTM și POLITEHNICA București demonstrează importanța parteneriatelor internaționale în promovarea cercetării avansate, a schimbului de experiență și a formării noii generații de cercetători.
